ICP光譜儀的主要性能指標是檢出限、短時間穩(wěn)定性、長時間穩(wěn)定性和儀器分辯率,測試這些指標需要幾乎一整天的時間,好在這些指標在儀器安裝調(diào)試時是必需要做的,考察儀器時,可以著重查看現(xiàn)有同類型儀器的實際驗收報告,以證實所考察儀器的性能指標。需要說明的是,所有這些指標是以簡單水溶液標準(1~10ppm)和溶液來測試并理論計算所得,加上有些公司為了表現(xiàn)其“優(yōu)良”的“表觀”指標,在儀器設(shè)計上采用了一些“技術(shù)”,以獲得不同條件下各自的*指標,例如用小狹縫來表演其“好”的“分辯率”,用大狹縫來展現(xiàn)其“檢出限”等等。因此,這些指標與實際分析時的性能往往有較大的差距,因為實際樣品中會存在的基體,而產(chǎn)生一定的干擾和基體效應,人們期望的是在好的分辯率下獲得好的靈敏度和穩(wěn)定性。因此考察儀器時,除了要關(guān)心儀器的“表觀”指標外,更應重視儀器在實際樣品分析中所表現(xiàn)的真實性能。考察儀器時,通??蛇x用能反映用戶實際樣品情況的某些標準樣品來進行考核,考核樣品應能盡量展現(xiàn)儀器的性能:既有微量、痕量元素(特別是遠紫外譜線P、S)——以反映儀器的實際檢出限和分辯率;又有主量元素——以反映全譜任意選擇的靈活性、線性和穩(wěn)定性。例如銅金礦、銅合金、合金鋼等國家標樣。
目前ICP光譜儀主要分為多道型、單道掃描型以及全譜直讀型,其中多道型和單道掃描型代表的是80年代的技術(shù)水平,它們以光電倍增管為檢測器,技術(shù)上非常成熟,但也較落后,其中多道型已幾乎退出歷史舞臺,單道掃描型以其合適的價格和靈活方便仍占有一定的*。全譜直讀型儀器代表了當今ICP的技術(shù)水準,它以CID或CCD(SCD)半導體器件為檢測器;中階梯光柵結(jié)合棱鏡(或平面光柵)構(gòu)成二維、高分辯率、高能量色散系統(tǒng),能同時獲得各元素譜線的信息。此類型儀器經(jīng)近十年的不斷完善和發(fā)展,目前已成為ICP光譜儀的主流。
根據(jù)不同的應用領(lǐng)域,ICP光譜儀又有垂直觀測、水平觀測和雙向觀測之分,其中垂直觀測型儀器主要適用于基體較為復雜的冶金、地礦、有色金屬等領(lǐng)域;水平觀測型儀器適用于基體較為簡單的水質(zhì)、環(huán)保、食品衛(wèi)生等領(lǐng)域;雙向觀測型儀器實際上是以水平觀測為主附加垂直觀測的儀器,它的*應用范圍仍是基體較為簡單的領(lǐng)域,雙向觀測能彌補水平觀測中所存在的易電離干擾、線性范圍變窄等一些缺陷。